半導体集積回路 の意味・用法を知る

保護回路を 半導体集積回路 化した保護ＩＣは、過充電電圧検出回路、過放電電圧検出回路、充電過電流検出回路、放電過電流検出回路等を内蔵しており、過放電電圧検出回路或いは放電過電流検出回路で過放電電圧或いは放電過電流を検出したとき放電停止用ＭＯＳトランジスタを遮断してリチウムイオン電池の放電を停止し、また、過充電電圧検出回路或いは充電過電流検出回路で過充電電圧或いは充電過電流を検出したとき充電停止用ＭＯＳトランジスタを遮断してリチウムイオン電池の充電を停止する。

• 公開日： 2014/09/18
• 出典： 充放電制御回路及び充放電制御方法
• 出願人： ミツミ電機株式会社

ここで、従来技術においては、表示駆動用 半導体集積回路 に、欠陥となる回路に備える予備の回路を設け、欠陥のある回路を予備の回路に切り替えることにより、表示駆動用半導体集積回路の不具合を回避することが開示されている。

• 公開日： 2009/09/17
• 出典： 駆動回路および駆動回路を備えた表示装置
• 出願人： シャープ株式会社

次に、本実施形態の 半導体集積回路 の検証処理動作を説明する。以下の処理動作により、レイアウト設計結果のネットリストを、論理設計結果のネットリストと同一の検証環境で検証可能な形式に変更する。

• 公開日： 1999/02/12
• 出典： 半導体集積回路の検証方法、半導体集積回路の検証装置、及び、半導体集積回路の検証プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
• 出願人： 株式会社東芝

本願は、 半導体集積回路 のレイアウト設計方法、及びレイアウト設計装置に関し、特に半導体集積回路のレイアウト設計単位であるマクロブロック内素子を用いたレイアウト設計方法、及びレイアウト設計装置に関する。

• 公開日： 2013/12/19
• 出典： レイアウト設計方法、及びレイアウト設計装置
• 出願人： ルネサスエレクトロニクス株式会社

一旦レイアウト設計が終了された 半導体集積回路 に回路変更の必要が生じた場合であれ、回路性能を確保しつつ効率のよいレイアウト変更を可能とする半導体集積回路のレイアウト変更方法及びレイアウト変更支援装置を提供する。

• 公開日： 2001/09/07
• 出典： 半導体集積回路のレイアウト変更方法及びレイアウト変更支援装置及びレイアウト変更支援プログラムが記録された記録媒体
• 出願人： 三洋電機株式会社

さらに、被試験対象となる 半導体集積回路 の出力端子数を想定して、予め多めに半導体集積回路試験装置に試験用端子及び試験用回路等を備える必要があることから、実際の半導体装置集積回路の試験において、被試験対象となる半導体集積回路の出力端子数が少ない場合には、半導体集積回路試験装置の試験用端子及び試験用回路の中に使用されない試験用端子及び試験用回路が発生する等、半導体集積回路試験装置の構成に無駄が生じコストパフォーマンスが低下することもあった。

• 公開日： 2003/05/09
• 出典： 半導体集積回路、半導体集積回路の試験装置、及び半導体集積回路の試験方法
• 出願人： シャープ株式会社

さらに、従来の 半導体集積回路 の試験装置及び試験方法では、試験装置と温度制御装置とが分離しているため、測定者が被試験ＩＣの温度を確認しながら試験を行わなければならず、作業が煩雑であった。また、試験装置の他に、温度制御装置を設置するためのスペースも必要とした。

• 公開日： 1999/05/28
• 出典： 半導体集積回路の試験装置及び試験方法並びに試験プログラムを記録した記憶媒体
• 出願人： 日本電気株式会社

そのため、信号遅延が必要な箇所を含む領域が小面積であっても、信号遅延に関する設計制約を満たす 半導体集積回路 の設計が可能な半導体集積回路設計装置、半導体集積回路設計方法及びプログラムが、望まれる。

• 公開日： 2013/08/22
• 出典： 半導体集積回路設計装置、半導体集積回路設計方法及びプログラム
• 出願人： ルネサスエレクトロニクス株式会社

大規模な 半導体集積回路 に対しても短時間、且つ、高精度な解析を行い得る電源電圧変動解析方法、電源電流変動解析方法、電源電圧変動解析装置、及び電源電流変動解析装置を提供することにある。

• 公開日： 2004/02/26
• 出典： 電源電圧変動解析方法、電源電流変動解析方法、電源電圧変動解析装置および電源電流変動解析装置
• 出願人： パナソニック株式会社

半導体集積回路 の論理回路の設計に用いるネットリストを最適化することにより設計時間を短縮することができる方法、該方法を用いて論理回路の設計を支援する装置及び該装置で実行することが可能なコンピュータプログラムを提供する。

• 公開日： 2014/02/03
• 出典： 半導体集積回路の論理回路設計に用いるネットリストを最適化する方法、該方法を用いて論理回路の設計を支援する装置及び該装置で実行することが可能なコンピュータプログラム
• 出願人： インターナシヨナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイーシヨン

半導体検査装置から得られた 半導体集積回路 の異常信号と関連する回路を精度よく抽出する半導体集積回路の故障解析方法、故障解析装置、及び故障解析プログラムを提供する。

• 公開日： 2010/09/02
• 出典： 半導体集積回路の故障解析方法、故障解析装置、及び故障解析プログラム
• 出願人： ルネサスエレクトロニクス株式会社

単一伝送路でシリアルデータ伝送を行うシリアルデータ伝送方法およびその方法を用いた伝送インタフェース回路に関わり、特に、インタフェース回路を有する 半導体集積回路 に関する。

• 公開日： 2002/11/22
• 出典： シリアルデータ伝送方法およびその方法を用いた伝送インタフェース回路
• 出願人： 富士電機株式会社

複数の 半導体集積回路 を同時に測定する場合には、それぞれ複数の半導体集積回路試験装置が半導体集積回路と一対一で試験を行うため、各半導体集積回路試験装置は複数の半導体集積回路に対する同時測定機能を有する必要がない。また、このとき必要とされる半導体集積回路試験装置のテストピン数は少数ですみ、小型の半導体集積回路試験装置を利用することができる。

• 公開日： 2001/02/23
• 出典： 半導体集積回路試験システム及び半導体集積回路試験方法
• 出願人： 日本電気株式会社

半導体集積回路 におけるトランジスタのレイアウト装置および方法ならびに当該方法を用いた半導体集積回路の製造方法に関し、特に、効率良くレイアウトの編集を行なうことができる半導体集積回路におけるトランジスタのレイアウト装置および方法ならびに当該方法を用いた半導体集積回路の製造方法に関する。

• 公開日： 1999/06/22
• 出典： 半導体集積回路におけるトランジスタのレイアウト装置および方法ならびに当該方法を用いた半導体集積回路の製造方法
• 出願人： 三菱電機株式会社

以上説明したように、設計支援プログラム、記録媒体、設計支援方法、および設計支援装置によれば、 半導体集積回路 の長寿命化、および設計期間の短縮を同時に実現することができる。

• 公開日： 2007/12/20
• 出典： 設計支援プログラム、該プログラムを記録した記録媒体、設計支援方法、および設計支援装置
• 出願人： 富士通株式会社

近年、 半導体集積回路 の高集積化、高機能化及び高速化に伴って、半導体集積回路の大規模化が進んでいる。そのため、半導体集積回路における、機能回路の検査が複雑化している。

• 公開日： 2010/11/18
• 出典： テスト回路および光ディスク装置
• 出願人： パナソニック株式会社

特に、本実施の形態におけるデータ記録再生装置および変調度検出装置によれば、 半導体集積回路 を用いて実現する場合には、小さな回路規模で消費電力が少ないデータ記録再生装置および変調度検出装置を提供することが可能となる。

• 公開日： 2013/02/28
• 出典： データ記録再生装置および変調度検出装置
• 出願人： パナソニック株式会社