入射角度 と関連性が強い法人一覧

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キヤノン株式会社 ホトレジスト感材への露光・位置合せ光学要素の表面処理半導体の露光(電子、イオン線露光を除く) 撮像素子及びそれを用いた撮像装置 技術一覧を見る
ソニー株式会社 ホログラフィ光学的記録再生1光学的記録再生4(ヘッド自体) ホログラム記録再生装置及び方法 技術一覧を見る
株式会社ニコン レンズ以外の光学要素光学フィルタ回折格子、偏光要素、ホログラム光学素子 光学部材と、これを有する光学系と光学装置 技術一覧を見る
コニカミノルタ株式会社 その他の光学系・装置、光の干渉・色の制御その他の光学系・装置、色の干渉・色の制御レンズ以外の光学要素 赤外カットフィルター 技術一覧を見る
富士フイルム株式会社 放射線診断機器光学的測定セル光学的手段による材料の調査、分析 制御装置、放射線画像撮影装置、放射線画像撮影方法、及び放射線画像撮影プログラム 技術一覧を見る
オリンパス株式会社 光学的手段による測長装置光学的手段による測長計器測光及び光パルスの特性測定 反射防止膜を有する光学素子 技術一覧を見る
三菱電機株式会社 方向探知レーダ方式及びその細部その他の電気量の測定 アレー測角装置 技術一覧を見る
株式会社デンソー 光学的手段による材料の調査、分析測光及び光パルスの特性測定光レーダ方式及びその細部 光センサ 技術一覧を見る
東日本電信電話株式会社 電場又は磁場に対する装置又は部品の遮蔽二次装置を有するアンテナ可変指向性アンテナ、アンテナ配列 アンテナ装置及び制御方法 技術一覧を見る
大日本印刷株式会社 ホログラフィOHP及び映写スクリーンクレジットカード等 ホログラムの製造方法およびカラーホログラムの製造方法 技術一覧を見る
日本電気株式会社 光学的手段による測長装置放射線を利用した材料分析波動性または粒子性放射線を用いた測長装置 集光レンズの入射防止膜形成方法 技術一覧を見る
シャープ株式会社 液晶4(光学部材との組合せ)液晶4(光学部材との組合せ)光学要素・レンズ 発光装置、バックライト装置及び表示装置 技術一覧を見る
三洋電機株式会社 回折格子、偏光要素、ホログラム光学素子その他の光学系・装置、光の干渉・色の制御その他の光学系・装置、色の干渉・色の制御 太陽電池パネル制御装置 技術一覧を見る
セイコーエプソン株式会社 液晶1(応用、原理)投影装置光学装置、光ファイバーの試験 プロジェクター 技術一覧を見る
富士通株式会社 放射線を利用した材料分析その他の電気的手段による材料の調査、分析半導体等の試験・測定 二次イオン質量分析技術による高精度な深さ方向分析法および分析装置 技術一覧を見る
株式会社トプコン 波動性または粒子性放射線を用いた測長装置各種分光測定と色の測定測光及び光パルスの特性測定 測光機器の受光装置 技術一覧を見る
ルネサスエレクトロニクス株式会社 その他の電気量の測定液晶1(応用、原理)液晶4(光学部材との組合せ) マスクブランクの欠陥検査方法 技術一覧を見る
株式会社東京精密 ホトレジスト感材への露光・位置合せ電子ビーム露光電子顕微鏡(3) 電子線装置および電子ビームの入射角度較正方法 技術一覧を見る
日立コンシューマエレクトロニクス株式会社 光学的記録再生1光ヘッドホログラフィ ホログラム記録再生装置及びホログラム再生方法 技術一覧を見る
株式会社東芝 写真製版における原稿準備・マスクホトレジスト感材への露光・位置合せホログラフィ マスクブランクの欠陥検査方法 技術一覧を見る
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