ワンダ の意味・用法を知る
ワンダ とは、デジタル伝送方式における同期 やその他の電気量の測定 などの分野において活用されるキーワードであり、アンリツ株式会社 や日本電気株式会社 などが関連する技術を122件開発しています。
このページでは、 ワンダ を含む技術文献に基づき、その意味・用法のみならず、活用される分野や市場、法人・人物などを網羅的に把握することができます。
ワンダの意味・用法
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位相同期回路Aは、入力された時刻信号のパケットジッタの有無を判断する位相監視手段A1と、時刻信号からパケットジッタを除去するジッタ除去手段A2と、時刻信号からパケット ワンダ を除去するワンダ除去手段A3と、を備えると共に、入力された時刻信号にパケットジッタがあると判断された場合に当該時刻信号をジッタ除去手段に通してからワンダ除去手段に通し、入力された時刻信号にパケットジッタがないと判断された場合に当該時刻信号を直接ワンダ除去手段に通す信号切り替え手段A4を有する。
- 公開日:2014/08/07
- 出典:位相同期回路、時刻同期装置、位相同期方法、および位相同期プログラム
- 出願人:日本電気通信システム株式会社
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簡単な回路構成で高精度な ワンダ 測定が行える。
- 公開日:2013/05/13
- 出典:ワンダ測定装置及びワンダ測定方法
- 出願人:アンリツ株式会社
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ジッタ・ ワンダ 抑圧性能を満足しつつ,高速な周波数追従性能を実現することが可能な回路を提供するために,回路は,OTN(Optical Transport Network)信号からSDH(Synchronous Digital Hierarchy)信号またはEthernet信号のクロックを再生するPLL手段(100)の位相比較データに基づいてジッタ・ワンダ成分(200)及び周波数変動状態(300)を処理した結果に基づいて,PLL手段のループゲインを制御する。
- 公開日:2012/09/27
- 出典:回路、制御システム、制御方法及びプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
- 出願人:日本電気株式会社
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入力映像信号を外部リファレンス信号に同期して処理する映像機器において、入力映像信号のジッタ/ ワンダ の量を常時簡単に測定する。
- 公開日:2008/06/26
- 出典:映像機器及びジッタ/ワンダの測定方法
- 出願人:ソニー株式会社
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従って、データフローの交換機および転送は、最小限のパケットディレイ、ジッタ、および、ふらつき( ワンダ ー)の通信速度で行われる。
- 登録日:2011/04/01
- 出典:ハードウェア抽象化レイヤ
- 出願人:アイピーインフュージョンインコーポレイテッド
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なお、予測ビット時間の持続時間の移動平均を用いることによって、通常、高速ジッタによってもたらされるわずかな変動は平滑化されるが、 ワンダ 又はバリスピードの動作によってもたらされる大きな変動はトラッキングされる。
- 登録日:2010/07/23
- 出典:シリアル・ディジタル・オーディオ・データ・ストリーム復号器を有するブロードキャスト・ルータ
- 出願人:トムソンライセンシングソシエテアノニム
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本発明の課題は、(1)ジッタトレランスの拡張、(2) ワンダ 発生時のデータ取込み可能範囲の拡張、(3)ワンダへの再生クロックの追従性の向上、(4)回路の低消費電力化である。
- 公開日:2004/06/24
- 出典:データ再生方法およびデジタル制御型クロックデータリカバリ回路
- 出願人:ルネサスエレクトロニクス株式会社
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前記出力周波数または前記出力周波数の位相偏差のピーク間の間隔を記録して、同期中に存在していた ワンダ をモデル化し、モデル化した前記ワンダのエミュレーションを行って、前記出力周波数の位相同期制御を行うワンダ・エミュレーション手段をさらに有することを特徴とする請求項1記載の位相同期制御装置。
- 公開日:2000/09/29
- 出典:位相同期制御装置
- 出願人:富士通株式会社
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本発明は、 ワンダ 測定等に用いられる雑音発生装置において、所望の特性の雑音信号を、高精度に発生できるようにするための技術に関する。
- 公開日:2004/06/03
- 出典:雑音発生装置
- 出願人:アンリツ株式会社
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TDEVマスク特性を設定する ワンダ 発生器のTDEVマスク特性設定装置12において、それぞれ複数の線分を接続してなるTDEVマスク特性を記憶するTDEVマスク特性ファイル29と、操作指定されたTDEVマスク特性をTDEVマスク特性ファイルから読出して表示するTDEVマスク特性読出手段32と、操作入力されたTDEVマスク特性を構成する各線分の開始点の変更指示又は開始点での特性値の変更指示を取込む変更指示取込手段33と、変更指示取込手段で取込んだ各変更指示を受け、操作指定されたTDEVマスク特性を構成する各線分毎に開始点、傾斜、及び開始点での特性値を含む該当線分を特定する各パラメータを算出することに...
- 公開日:2002/01/11
- 出典:ワンダ発生器のTDEVマスク特性設定装置
- 出願人:アンリツ株式会社
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