被測定物 の意味・用法を知る

また、本実施の形態におけるレーザ光線を用いた非接触高さ測定方法を利用した測定機器を用いて、 被測定物 を回転させる等して被測定物の表面の形状を測定することができる。

• 公開日： 2002/05/09
• 出典： レーザ光線を用いた非接触高さ測定方法
• 出願人： パナソニック株式会社

しかも、入射光を直交偏光軸にあわせて 被測定物 に入射した結果に基づき偏波モード分散を測定する方法は、入射光を偏波分離手段におけるｐ偏光軸およびｓ偏光軸にあわせて被測定物に入射した結果に基づき偏波モード分散を測定する方法と同様であり、偏波モード分散を測定することが可能である。

• 公開日： 2003/07/18
• 出典： 偏波モード分散測定装置、方法、プログラムおよび該プログラムを記録した記録媒体
• 出願人： 株式会社アドバンテスト

被測定物 が抗原の場合は被測定物と結合する被測定物捕捉物質を抗体として担体粒子に感作させる。被測定物を抗体とする場合には被測定物と結合する被測定物捕捉物質を担体粒子に抗原を感作させる。被測定物がリガンドの場合は被測定物と結合する被測定物捕捉物質をレセプターとして担体粒子に感作させ、被測定物がレセプターの場合は被測定物と結合する被測定物捕捉物質を担体粒子にリガンドとする。

• 公開日： 2012/09/10
• 出典： 検査試薬及びそれを用いた被検試料中の被測定物の測定方法
• 出願人： デンカ生研株式会社

そこで、非接触式温度計の他に、接触式温度計を併用して、この接触式温度計によって測定された 被測定物 の温度に基づいて誤差補正を行い、非接触式温度計によっても正確な温度が測定できるようにしている。これは、非接触式温度計による測定値が、接触式温度計による測定値と一致するように、非接触式温度計による被測定物の放射率測定値を補正し、被測定物の放射率を正確に確定する方法である。

• 公開日： 1995/07/28
• 出典： 温度測定方法及び温度測定装置
• 出願人： 安立計器株式会社

また、 被測定物 を形状測定装置に直接取り付ける際、あるいは測定治具を介して形状測定装置に取り付ける際に、被測定物の形状や被測定物の保持方法によっては、保持力に起因したいわゆる保持変形が被測定物に発生する場合がある。保持変形が生じた状態で測定した被測定面形状は、被測定物本来の面形状とは異なる形状を測定していることになるため、測定失敗として取り扱われる。

• 公開日： 2007/03/29
• 出典： 形状測定方法および形状測定装置
• 出願人： キヤノン株式会社

被測定物 の測定面形状が標準サンプルの測定面形状と異なっている場合においても、精度よく被測定物の絶対反射率が測定可能である反射率測定器および反射率測定方法を提供することにある。

• 公開日： 1995/10/31
• 出典： 反射率測定装置および反射率測定方法
• 出願人： ウシオ電機株式会社

しかし、これらの従来法は照明光の変動などの対策はなされているが、画像全面に対して 被測定物 が小さく、背景部分に対する被測定物の濃淡のコントラストが低い被測定物を測定しようとする場合には、十分な測定精度が得られなかった。すなわち、上記のように被測定物が小さい場合には、被測定物と背景との境界がはっきりしないため、被測定物の形状の認識がうまくいかず、被測定物のコントラストのばらつきによって測定のばらつきが大きくなってしまう。

• 公開日： 1997/11/04
• 出典： 被測定物の形状、ガラス内部にある泡の形状およびガラスの欠陥の度合の評価方法
• 出願人： 旭硝子株式会社

ここで、検査対象である 被測定物 の測定項目が多岐に渡ると、測定に使用する測定器具の種類や被測定物の測定部位も多岐に渡ることになる。このため、測定者が測定器具を取り違えたり、或いは、測定部位を間違える場合も生じ得る。この結果、測定ミスを生じるおそれがあると共に測定者の負担が過大となる。

• 公開日： 2005/03/10
• 出典： 測定支援装置、測定支援方法及び測定支援プログラム
• 出願人： マツダ株式会社

出射光を平行光とした後その平行光を偏光成分ごとに分離してそれぞれの偏光成分から 被測定物 の偏波依存性損失を測定するので、高精度で被測定物の偏波依存性損失を測定することができる。

• 公開日： 1996/05/31
• 出典： 偏波依存性損失測定方法及びその装置
• 出願人： 日立金属株式会社

ところで、従来技術においては、単一の装置により 被測定物 内部の欠陥および歪みを測定できる装置が未だ開発されていないため、被測定物内部の欠陥および歪みを測定するにはそれぞれ専用の測定装置を用いて行う必要があった。

• 公開日： 2009/10/29
• 出典： 光学測定装置
• 出願人： 住友金属鉱山シポレックス株式会社

被測定物 の表面に沿って撮像手段を移動させて撮像した発光点の特徴量測定において、測定速度の高速化を図ることができる発光点測定装置および発光点測定方法を提供すること。

• 公開日： 2008/04/03
• 出典： 発光点測定装置および発光点測定方法
• 出願人： セイコーエプソン株式会社

放射線厚さ計によって 被測定物 の厚さを測るとき、厚さの絶対値を求める演算処理と、予め定めた基準厚さ値からの偏差分を検出する演算処理とがあり、測定結果にもとづいて行う対応処理の内容によっていずれかの測定演算処理が選択される。

• 公開日： 1995/10/20
• 出典： 放射線厚さ計の演算処理装置
• 出願人： 富士電機株式会社

接触子の表面部および 被測定物 の表面部は、微視的に見ると、凹凸があり、また酸化膜などの皮膜に覆われている。このような接触子および被測定物が接触する。それ故、微視的に見ると、接触子および被測定物の接触部には、接触子および被測定物が直接、接触している直接接触部分と、接触子および被測定物が皮膜を介して接触している間接接触部分と、接触子および被測定物が接触していない非接触部分とがある。接触子および被測定物の接触部は、微小な直接接触部分および微小な間接接触部分による多点接触状態となっている。

• 公開日： 2006/01/12
• 出典： 電子部品の電気特性の測定方法およびその測定装置
• 出願人： シャープ株式会社

被測定物 が溶接シーム部を有する鋼管の場合において、溶接シーム部の磁気異方性のレベルと溶接シーム部を含まない一般部の磁気異方性のレベルとの間には大きな差が生じる。

• 公開日： 1999/07/21
• 出典： 鋼管の溶接シーム部の検出方法
• 出願人： ＪＦＥエンジニアリング株式会社

しかしながら、この場合、測定器は 被測定物 に非常に接近していることになるので、多くの新たな問題が生じる。特に、測定器が被測定物に接近するにつれて減少する被写界深度の問題がある。

• 公開日： 1995/07/14
• 出典： 三次元物体を測定する光測定器
• 出願人： クレオンアンドゥストリー

ところが、一般に 被測定物 の階級判別を行う場合、特に被測定物が西瓜等のような大形の被測定物は、所定個数ごとに箱詰めされることから、その直径測定による階級が要求されるのである。

• 公開日： 1994/03/11
• 出典： 球状物の階級判別装置
• 出願人： ヤンマー株式会社

このように 被測定物 に対して引張力を直接的に与えるのではなく、被測定物を保持する基体に引張力を与えることにより基体を介して被測定物に対して引張力を間接的に与えるため、被測定物のサイズが小さいときであっても、基体に保持されている被測定物に対して引張力を良好に与えることができる。

• 公開日： 2005/09/15
• 出典： 被測定物の評価方法及びそれに使用する試験治具
• 出願人： トヨタ自動車株式会社

また、 被測定物 と気体を接触させる必要がないので、被測定物近傍での気体の流れや気圧変化による測定精度の低下がなく、嵩の高い被測定物についても、気体との接触により被測定物が移動することないので、精度の高い測定が可能である。

• 公開日： 2006/05/25
• 出典： 比表面積の測定方法
• 出願人： デンカ株式会社

また、吸音率を測定するとき、試験音の発生源から放出される一次伝播スピーカ音と該一次伝播スピーカ音が 被測定物 に当たって反射される二次伝播反射音の混じり合う混成音から、吸音率を導出するために必要な二次伝播反射音のみを分離して検出することができる。

• 公開日： 2009/01/22
• 出典： 一次伝播音消去マイクロホン装置
• 出願人： ビーバ株式会社

安価且つ単純な構造でありながら、 被測定物 の形状に左右させることなく、安定して引張強度の測定を行うことのできる引張強度測定方法及びこれを実現する引張強度測定装置の構造について提案する。

• 公開日： 2006/06/08
• 出典： 引張強度測定方法及び引張強度測定装置
• 出願人： トヨタ自動車株式会社