X線 の意味・用法を知る

手術後のＸ線一般撮影によって得られるＸ線画像を、より迅速かつ診断能の高い状態で観察することを可能とするＸ線撮影システム、Ｘ線撮影装置、およびＸ線検出器を提供する。

• 公開日：2017/03/16
• 出典：Ｘ線撮影システム、Ｘ線撮影装置、およびＸ線検出器
• 出願人：株式会社島津製作所

高輝度Ｘ線を高分子材料に照射し、Ｘ線のエネルギーを変えながら測定されるＸ線吸収量から高分子の配向度を算出し、得られた高分子の配向度に基づき、高分子材料のクラック性能を評価する方法に関する。

• 公開日：2017/02/09
• 出典：高分子材料のクラック性能を評価する方法
• 出願人：住友ゴム工業株式会社

前記放射線源が放射する前記放射線は、Ｘ線又はγ線である、請求項１乃至５のいずれか一つに記載の厚さ測定装置。

• 公開日：2016/11/10
• 出典：厚さ測定装置
• 出願人：株式会社東芝

ＣｕＫα線のＸ線回折におけるブラッグ角２θ±０．２°において７．５°、９．９°、２５．２°、および２８．３°にピークを有し、９．９°のピーク強度が７．５°のピーク強度よりも高いことを特徴とするヒドロキシガリウムフタロシアニン結晶。

• 公開日：2016/01/28
• 出典：ヒドロキシガリウムフタロシアニン結晶、電子写真感光体、プロセスカートリッジ及び電子写真装置
• 出願人：キヤノン株式会社

Ｘ線トールボット干渉計１００は、複数のＸ線透過部２１を有し、Ｘ線源１０からのＸ線の一部を透過する線源格子２と、Ｘ線透過部からのＸ線を周期構造により回折し、干渉パターンを形成するビームスプリッター格子３と、ビームスプリッター格子からのＸ線を検出するＸ線検出器５とを備える。ビームスプリッター格子は、複数のＸ線透過部の夫々からのＸ線を前記周期構造により回折して複数のＸ線透過部の夫々に対応する干渉パターンを形成する。複数のＸ線透過部は、複数のＸ線透過部の夫々に対応する干渉パターンを互いに重畳させることにより、特定の空間周波数成分を強調するように配置される。ここで、特定の空間周波数成分は、干渉パター...

• 公開日：2015/09/24
• 出典：Ｘ線トールボット干渉計及びＸ線トールボット干渉計システム
• 出願人：キヤノン株式会社

試料にＸ線を照射し、鏡面反射方向に反射する鏡面反射Ｘ線の強度を検出し、入射Ｘ線強度に対する鏡面反射Ｘ線強度の割合であるＸ線反射率を測定する（Ｓ１０）。試料の解析モデルについてパラメータの初期値を設定し（Ｓ１２）、Ｘ線の屈折、反射及び干渉を解析して、Ｘ線反射率を計算する（Ｓ１４）。Ｘ線反射率の測定値と計算値との差が許容範囲内に収まるまで、パラメータを変更しながら計算を繰り返す（Ｓ１６、Ｓ１８）。差が許容範囲内に収まったときのパラメータによって、試料の多層構造の情報を得る（Ｓ２０）。パラメータは、解析モデルの各層の表面又は界面のうち一つ以上について、表面又は界面の凹凸の高さ方向の大きさを表すラフネ...

• 公開日：2017/01/05
• 出典：Ｘ線反射率法による表面粗さ・界面粗さの２次元情報評価方法及び評価プログラム
• 出願人：国立大学法人神戸大学

熱に起因する X線 焦点移動が生じた場合であっても、X線焦点位置を適切に検出するために、X線管装置101からのX線が通る細孔が形成されるスリット部材110と、X線の焦点の位置を検出する焦点位置計測用検出器111と、制御部108とを有し、焦点位置計測用検出器111は、複数の検出領域111a、111bに入射するX線量を前記検出領域ごとに検出し、制御部108は、複数の検出領域111a、111bの検出値を対比することで、X線の焦点の基準位置に対するX線の焦点位置の変位量を求め、スリット部材110と焦点位置計測用検出器111における検出領域111a、111bとの相対位置を変更する。

• 公開日：2018/03/22
• 出典：Ｘ線ＣＴ装置及びＸ線ＣＴ装置における焦点位置制御方法
• 出願人：ルネサスエレクトロニクス株式会社

...ｏｔ干渉パターンを確立するビーム分割格子Ｇ１と、２次元Ｘ線強度を、複数の電子信号へと変換するＸ線検出器とをさらに備える。システムは、また、複数のさらなる干渉縞を形成すべく、検出器の前に配置され得る第２の分析格子Ｇ２と、検出器に対して第２の格子Ｇ２を移動させる手段とを備えてもよい。システムは、散乱したＸ線からの複数の信号を低減する散乱防止用グリッドをさらに備えてよい。暗視野および明視野検出器の様々な構成も、開示される。

• 公開日：2017/06/08
• 出典：Ｘ線干渉イメージングシステム
• 出願人：シグレイ、インコーポレイテッド

線源発射器（３１）、線源格子（Ｇ０）、ビームスプリッティング格子（Ｇ１）、分析格子（Ｇ２）および検出器（３２）を備え、当該線源格子（Ｇ０）、ビームスプリッティング格子（Ｇ１）、分析格子（Ｇ２）及び検出器（３２）は、線源発射器（３１）の伝搬経路に順に設けられ、前記ビームスプリッティング格子（Ｇ１）は、周期が３０〜５０μｍであり、アスペクト比が２０以下であることを特徴とするＸ線格子位相コントラストイメージング装置。

• 公開日：2016/11/17
• 出典：Ｘ線格子位相コントラストイメージング装置及び方法
• 出願人：中国科学技術大学

当該システムにおいて、 X線 源から走査ステージ上のサンプルにX線が出射され、X線がサンプルを透過するときに、空間的位置における材料の特徴情報を搬送する光子が発生し、光子計数検出器は、結像平面における光子を計数し、入射光子の投影データとエネルギデータを取得し、三次元再構成システムに伝送する。

• 公開日：2016/11/04
• 出典：光子計数に基づく放射線結像システム、方法、及びそのデバイス
• 出願人：ナノヴィジョン・テクノロジー・（ベイジン）・カンパニー・リミテッド