露出 の意味・用法を知る

オープンバレル型の端子の移行部において 露出 する芯線の防食性を従来よりも向上する。

• 公開日：2017/11/30
• 出典：端子付き電線
• 出願人：古河電気工業株式会社

紙片を折り畳んで剥離可能として葉書状に形成した圧着葉書であって，圧着葉書は，圧着剤を塗布する圧着面と，圧着面を圧着して剥離可能に葉書状に形成した状態において外部に 露出 する露出面と，を備えており，露出面の一部または全部に耐水化剤が塗布されている，圧着葉書である。

• 公開日：2018/04/12
• 出典：圧着葉書，圧着葉書の印刷方法および圧着葉書印刷装置
• 出願人：共立印刷株式会社

低 露出 画像と高露出画像の露出変化率を変化させて露出の異なる２つの画像を同時に撮像することにより、従来のＨＤＲ撮像では得られなかった２つの画像を撮像可能な撮像装置を提供すること。

• 公開日：2018/04/05
• 出典：撮像装置及び撮像方法
• 出願人：キヤノン株式会社

複数の第一凹部１０ａを有する第一領域Ａと、第一領域Ａと隣接し、複数の第二凹部１０ｂを有する第二領域Ｂと、を備えた基材１０を具備し、第一領域Ａの複数の第一凹部１０ａの平均深さは、第二領域Ｂの複数の第二凹部１０ｂの平均深さよりも深く、少なくとも第一領域Ａの基材１０の表面には第一塗膜２０が形成されており、基材１０の表面は、第一領域Ａよりも第二領域Ｂで多く 露出 している建築板１００である。

• 公開日：2018/04/05
• 出典：建築板とその製造方法
• 出願人：ニチハ株式会社

傾斜面は、 露出 面３７３に対して傾斜してハンドル３７をオン位置からオフ位置へと回転させるための回転力を受ける。

• 公開日：2017/09/14
• 出典：接続装置、及び接続装置を備える接続システム
• 出願人：パナソニックＩＰマネジメント株式会社

フィールド動作部品の処理方法であって、セラミックマトリックス複合材料を含むフィールド動作部品を設けることと、フィールド動作部品の第１の部分を除去して第１の 露出 セラミックマトリックス複合材料表面をフィールド動作部品に形成することと、セラミックマトリックス複合材料を含み、第１の露出セラミックマトリックス複合材料表面と係合するように適合された構造を含む第２の露出セラミックマトリックス複合材料表面を有する第２の部分を設けることと、第１の部分を交換するように第２の部分をフィールド動作部品に対応して配置することと、第２の部分とフィールド動作部品を接合して処理部品を形成することとを含む方法。

• 公開日：2017/03/16
• 出典：フィールド動作部品の処理方法
• 出願人：ジエネラル・エレクトリツク・カンパニー

ｚ方向において互いに反対側を向く主面１１および裏面１２と主面１１および裏面１２を繋ぐ側面１３とを有する基材１と、基材１に形成された配線部２と、配線部２と導通し且つ基材１の主面１１側に配置された半導体素子３と、半導体素子３を覆う樹脂パッケージ５と、を備えた半導体装置Ａ１であって、配線部２は、主面１１に形成された主面部２１、裏面１２に形成された裏面部２２および主面部２１と裏面部２２とを繋ぐ貫通部２３、を含み、貫通部２３は、基材１の側面１３から 露出 する露出面２３１と、ｚ方向視において露出面２３１よりも内方に位置し且つｘ方向寸法が露出面２３１のｘ方向寸法よりも大である拡大部２３２と、を有する。

• 公開日：2017/11/02
• 出典：半導体装置
• 出願人：ローム株式会社

蓄電素子１０の電極体４００に備えられる負極４２０であって、負極基材層４２１と、負極基材層４２１上に一部または全部が 露出 した状態で形成された負極活物質層４２２及び４２３とを有し、負極４２０の周縁部は、蓄電素子１０の負極集電体１３０に接続される第１の辺に配置され、負極活物質層４２２及び４２３が形成されていない非形成部４２０ａと、第１の辺と異なる第２の辺に配置され、負極活物質層４２２及び４２３が露出していない非露出部４２０ｂとを有する。

• 公開日：2017/07/27
• 出典：蓄電素子、及び、蓄電素子の製造方法
• 出願人：株式会社ＧＳユアサ

走査型プローブ顕微鏡にて試料を測定する方法であって、試料ホルダーにおける開口を有する面に対して試料を押し付けて試料の一部を開口から上方に向けて 露出 させる押し付け工程と、試料を押し付けた状態で試料ホルダーを試料ステージに接地させ、試料ステージの主表面および試料の露出面を互いに平行にして走査型プローブ顕微鏡にて試料の露出面を走査する走査工程と、を有する、走査型プローブ顕微鏡を用いた試料の測定方法やそれに関連する走査型プローブ顕微鏡用試料ホルダーを提供する。

• 公開日：2018/03/01
• 出典：走査型プローブ顕微鏡を用いた試料の測定方法および走査型プローブ顕微鏡用試料ホルダー
• 出願人：住友金属鉱山シポレックス株式会社

本発明は、複数のシ−トが積層された積層体と、上記積層体の内部に配置され、上記積層体の少なくとも一面に一部が 露出 する露出部を有するコイルと、上記露出部を覆うように上記積層体の外側に配置される非磁性絶縁層と、を含むチップインダクタに関する。

• 公開日：2017/12/07
• 出典：チップインダクタ及びその製造方法
• 出願人：三星電機株式会社