集積回路 の意味・用法を知る

第１光検出器１５Ａには、位置検出部４５１を備えた 集積回路 ４５０が接続されており、位置検出部４５１は、第１光検出器１５Ａでの検出結果に基づいて、対象物体Ｏｂの位置を検出する。また、位置検出部４５１は、第１光検出器１５Ａおよび第２光検出器５Ｂ双方での検出結果、あるいは第２光検出器５Ｂでの検出結果に基づいて、対象物体Ｏｂの位置を検出することもできる。

• 公開日： 2011/03/31
• 出典： 光学式位置検出装置、光学式位置検出装置の校正方法、および位置検出機能付き表示装置
• 出願人： セイコーエプソン株式会社

これらＣＣ素子は微小硝子球型再帰反射素子のように金属薄膜層を設置して光をプリズム反射面上で反射する鏡面反射型ＣＣ素子や、プリズム背面に空気などの屈折率の小さな層を設置した素子とすることにより内部全反射原理により光をプリズム反射面上で反射する内部全反射型ＣＣ素子を用いることができる。この内部全反射型ＣＣ素子は微小硝子球型再帰反射素子のように金属薄膜層を設置する必要が無いので、金属薄膜層の色により再帰反射性 集積回路 封入製品の外観が暗くならないので事前認識性の面で好ましい。

• 公開日： 2008/11/20
• 出典： 再帰反射性集積回路封入製品
• 出願人： 日本カーバイド工業株式会社

系という用語は、絶縁素子または 集積回路 の一部から多数の素子により構成される複雑な手段にまでわたる範囲を意味するものと理解する。幾つかの系で構成されるこのような回路の動作期間は、ガンマ線放射のもとで、分離されている当該各系の動作期間の和より大きい。

• 公開日： 1995/02/14
• 出典： ガンマ線に暴露されるＭＯＳ素子を有する回路の動作期間を延長する方法
• 出願人： コミッサリアアレネルジーアトミークエオゼネルジザルタナテイヴ

ここで、従来技術においては、表示駆動用半導体 集積回路 に、欠陥となる回路に備える予備の回路を設け、欠陥のある回路を予備の回路に切り替えることにより、表示駆動用半導体集積回路の不具合を回避することが開示されている。

• 公開日： 2009/09/10
• 出典： 駆動回路および該駆動回路を備えた表示装置
• 出願人： シャープ株式会社

従って、この問題を克服する、複数のＤＡＣを備えているマルチチャンネル 集積回路 が必要であり、かつ、同様にこれらの問題を克服する、マルチチャンネル集積回路のＤＡＣの出力を監視するための方法も必要である。

• 公開日： 2006/03/16
• 出典： 複数のＤＡＣを備えているマルチチャンネル集積回路、およびＤＡＣの出力を監視するための方法
• 出願人： アナログディヴァイスィズインク

一旦レイアウト設計が終了された半導体 集積回路 に回路変更の必要が生じた場合であれ、回路性能を確保しつつ効率のよいレイアウト変更を可能とする半導体集積回路のレイアウト変更方法及びレイアウト変更支援装置を提供する。

• 公開日： 2001/09/07
• 出典： 半導体集積回路のレイアウト変更方法及びレイアウト変更支援装置及びレイアウト変更支援プログラムが記録された記録媒体
• 出願人： 三洋電機株式会社

なお、 集積回路 の設計では一般的なことであるが、円などの二次元形状は、上から下に見た場合の半導体ウェハ上の形状を指す。接点およびビアの場合、三次元に製造された実際の形状は円筒形または略円筒形であってもよい。

• 公開日： 2010/03/18
• 出典： 半導体装置を基板上に製造するための方法、荷電粒子ビームリソグラフィのための断片化またはマスクデータ準備のための方法、複数の円形パターンを表面上に形成するための方法およびシステム、ならびに荷電粒子ビームリソグラフィで用いるための断片化またはマスクデータ準備のためのシステム
• 出願人： ディー・ツー・エス・インコーポレイテッド

現代の 集積回路 に組み込まれるトランジスタの数が増すに連れて、このような集積回路を駆動するために必要とされる電力も増す。ますます電力を喰うトランジスタを単一の集積回路に実装するというこの傾向が続くにつれて、これらの集積回路が消費する総電力を減少させる技法がより重要となる。

• 公開日： 2004/06/24
• 出典： プロセッサに供給される電圧をクロック周波数に応じて調整する方法
• 出願人： テキサスインスツルメンツインコーポレイテッド

電気回路のバーンイン試験のための試験機器は、一般的に、ウェーハまたは被試験基体上の 集積回路 のような被試験電気回路を試験プローブ回路に電気的に接続するための接続配列を含んでいる。

• 公開日： 2005/11/04
• 出典： 被試験部品上の電気回路を試験するために被試験部品を試験機械に電気的に接続するための組立体
• 出願人： エイアーテストシステムズ

以下、これらの記録速度の制御方法を用いてＢＤに記録を行う場合において、最適な記録条件、たとえば、記録パワーを決定することのできる情報記録媒体、記録方法、記録装置および 集積回路 を具体的に説明する。

• 公開日： 2011/04/21
• 出典： 情報記録媒体、記録方法、記録装置および集積回路
• 出願人： パナソニック株式会社

高圧放電灯の再始動に休止区間を設けている高圧放電灯点灯装置において、ＩＰＤ等の高価な素子を使用することなく、高圧放電灯点灯装置を構成する 集積回路 に電力を供給することができる高圧放電灯点灯装置及び照明装置を提供する。

• 公開日： 2004/07/15
• 出典： 高圧放電灯点灯装置及び照明装置
• 出願人： パナソニック株式会社

複数の半導体 集積回路 を同時に測定する場合には、それぞれ複数の半導体集積回路試験装置が半導体集積回路と一対一で試験を行うため、各半導体集積回路試験装置は複数の半導体集積回路に対する同時測定機能を有する必要がない。また、このとき必要とされる半導体集積回路試験装置のテストピン数は少数ですみ、小型の半導体集積回路試験装置を利用することができる。

• 公開日： 2001/02/23
• 出典： 半導体集積回路試験システム及び半導体集積回路試験方法
• 出願人： 日本電気株式会社