走査 の意味・用法を知る

前記第１温度が前記第２温度よりも高い温度であって、かつ、前記第１温度から前記第２温度を引いた差が所定の閾値よりも大きい場合には、前記第１面上の前記レーザの 走査 速度を、前記第２面上の前記レーザの前記走査速度よりも大きくし、前記第１温度が前記第２温度よりも低い温度であって、かつ、前記第２温度から前記第１温度を引いた差が所定の前記閾値よりも大きい場合には、前記第１面上の前記レーザの走査速度を、前記第２面上の前記レーザの前記走査速度よりも小さくする、請求項１または２に記載のレーザ肉盛方法。

• 公開日：2017/10/12
• 出典：レーザ肉盛方法
• 出願人：トヨタ自動車株式会社

走査 式プロジェクタとスクリーンとを備えた走査式プロジェクタシステムであって、前記走査式プロジェクタは、所定の回転軸を中心とした所定角度の往復回転運動により収束光の走査を行なう可動式ミラーを備え、前記スクリーンは、前記走査方向について両端部が前記回転軸に近づくように湾曲していることを特徴とする走査式プロジェクタシステム。

• 公開日：2017/03/30
• 出典：走査式プロジェクタシステム
• 出願人：矢崎総業株式会社

超音波伝送による対象物（Ｏ）の検査方法にして、超音波ビームと前記対象物（Ｏ）を介して伝送された超音波ビームの振幅を測定することとによる前記対象物への 走査 が実施され、前記測定は、超音波ビームを電気信号に変換することと、前記信号に増幅ゲインを加えることと、前記信号の振幅を測定することとを備え、そこから、照射方向に従った前記対象物の映像面の各点が、前記対象物を介して前記点に伝送された超音波ビームの振幅に結び付けられるマッピングを推定する、検査方法であって、検査されるべき対象物と同一の幾何学形状を有する対比試験片上で前記走査および前記振幅測定（１１００）を、そこから前記試験片のマッピングを推定する（１...

• 公開日：2016/07/11
• 出典：超音波伝送による改良型検査方法
• 出願人：サフランエアークラフトエンジンズ

同期光に主 走査 方向に関する位置ずれがあっても、同期検知精度を維持することができる光走査装置を提供する。

• 公開日：2016/05/30
• 出典：光走査装置及び画像形成装置
• 出願人：株式会社リコー

...電変換して被写体の画像データを読み取るイメージセンサと、被写体からイメージセンサまでの間の光路長情報と、レンズに入射する反射光の入射角度データとレンズから出射する出射角度データとが対応付いた入出射角情報と、を予め記憶する記憶部と、イメージセンサにより読み取った１ラインの被写体の画像データの各画素の主 走査 方向の画素位置を検出する画素位置検出部と、画像データと、検出した各画素の画素位置データとを用いて、画像データの両端部画素の主走査方向の両端部画素位置を検出するエッジ検出部と、両端部画素位置及び両端部画素位置の間にある各画素の画素位置と、光路長情報と、入出射角情報とを用いて、レンズの歪曲収差による...

• 公開日：2016/05/23
• 出典：画像読取装置、画像形成装置及び画像読取方法
• 出願人：株式会社リコー

前記リセット制御手段および前記撮像制御手段は、前記複数の 走査 ラインを互いに隣接しない複数の走査ライン群に分け、複数の走査ライン群のうちの一のライン群の走査を実行した後に他のライン群についての走査を実行させ、前記撮像制御手段は、放射線の照射が検知された際に前記リセット走査が行われていた走査ライン群以外の走査ラインの前記画素に蓄積された電荷を先行して読出し、前記生成手段は、前記先行して読み出された、前記走査ラインの前記画素に蓄積された電荷に対応する画像信号に基づいて、プレビュー画像を生成することを特徴とする請求項１乃至１２のいずれか１項に記載の放射線撮像装置。

• 公開日：2014/10/09
• 出典：放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像方法およびプログラム
• 出願人：キヤノン株式会社

さらに、撮像システムは、ガントリのボアの両側に配置されている対になった光送信機および光受信機によって患者の身体プロファイルを検出し、 走査 支持テーブルおよび／または走査支持クレードルを高さおよび幅方向において自動的に動かす。

• 公開日：2014/08/21
• 出典：患者身体プロファイルの自動検出および患者のインテリジェントな位置決め
• 出願人：ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー

被写体を実際に 走査 して得られる画像の画角を適正な画角にするための作業を簡便に行うことが可能な光走査型観察システムを提供する。

• 公開日：2016/06/20
• 出典：光走査型観察システム
• 出願人：オリンパス株式会社

被計測面に対してプローブを第１方向に 走査 させながら被計測面のライン領域の形状を表す第１形状計測データ、及び、被計測面に対してプローブを第１方向とは異なる第２方向に走査させて得られるライン領域の形状を表す第２形状計測データを取得する第１工程と、被計測面の傾斜角に基づいて、第１方向に走査する計測誤差を補正する第１補正パラメータ、及び、第２方向に走査する計測誤差を補正するための第２補正パラメータを決定する第２工程と、第１補正パラメータを用いて第１形状計測データを補正して第１補正形状データを求め、第２補正パラメータを用いて第２形状計測データを補正して第２補正形状データを求め、第１補正形状データと第２補...

• 公開日：2016/05/09
• 出典：算出方法、計測装置、プログラム及び情報処理装置
• 出願人：キヤノン株式会社

被計測面に対してプローブを第１方向及び第２方向に 走査 させながら互いに異なる被計測面のライン領域を計測して、プローブを第１方向に走査させたときのライン領域の計測形状を表す第１形状データ及びプローブを第２方向に走査させたときのライン領域の計測形状を表す第２形状データを取得する第１工程Ｓ１１と、プローブを第１方向に走査することに起因する計測誤差を補正するための第１補正パラメータを用いて第１補正形状データを求め、プローブを第２方向に走査することに起因する計測誤差を補正するための第２補正パラメータを用いて第２補正形状データを求め、第１補正形状データと第２補正形状データとを合成して被計測面の全体の形状を表...

• 公開日：2016/04/25
• 出典：算出方法、プログラム、情報処理装置及び計測装置
• 出願人：キヤノン株式会社