検査 の意味・用法を知る
検査 とは、光学的手段による材料の調査の特殊な応用 や半導体等の試験・測定 などの分野において活用されるキーワードであり、パナソニック株式会社 やルネサスエレクトロニクス株式会社 などが関連する技術を37,056件開発しています。
このページでは、 検査 を含む技術文献に基づき、その意味・用法のみならず、活用される分野や市場、法人・人物などを網羅的に把握することができます。
検査の意味・用法
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患者の病態確定を行うための 検査 を行うに当たって、医用画像が保持する病態識別情報を基に診断プロトコル情報を表示し、当該診断プロトコル情報に基づいた検査を検査者に促すことで漏れなく適切な検査が行われることを可能とする超音波診断装置、医用画像診断装置、及び、医用画像診断支援プログラムを提供する。
- 公開日:2018/04/05
- 出典:超音波診断装置、医用画像診断装置、及び、医用画像診断支援プログラム
- 出願人:東芝メディカルシステムズ株式会社
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検査 システムの出荷前のリードタイムを短縮することができる技術を提供する。
- 公開日:2018/03/15
- 出典:検査システムの調整方法およびそれに用いる補助エレメント
- 出願人:東京エレクトロン株式会社
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対象物の表面の形態を高精度に 検査 する技術を提供する。
- 公開日:2018/02/22
- 出典:検査装置および検査方法
- 出願人:株式会社SCREENホールディングス
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請求項1から請求項3の何れかに記載の計測装置を備えて、上記液量を 検査 する検査装置であって、検査前の上記容器を入れる検査前収容部と、検査で適量と判断された上記容器を入れる良品収容部と、検査で適量でないと判断された上記容器を入れる不良品収容部と、上記検査前収容部から上記良品収容部へ又は上記不良品収容部へ上記容器を搬送する搬送部と、を備え、上記画像処理部が検査用情報を用いて上記液体が適量であるか判断し、上記容器が上記画像処理部での判断に基づいて上記搬送部によって上記良品収容部へ又は上記不良品収容部へ送られることを特徴とする、検査装置。
- 公開日:2018/03/15
- 出典:計測装置、検査装置、計測方法及び検査方法
- 出願人:株式会社柴崎製作所
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部品200の物理プロファイル230上の処理位置440aであって、 検査 領域450a内にある処理位置440aを特定する110と、処理位置440aに基づいて検査領域位置460bを特定し、検査領域450bが検査領域位置460bに幾何学的に関連付けられる120と、部品200の物理プロファイル230上の処理位置440bであって、検査領域450b内にある処理位置440bを特定する130と、処理位置440a及び処理位置440bに基づいて経路470の少なくとも一部を生成する140を含む。
- 公開日:2017/03/23
- 出典:部品の物理プロファイルを処理するための経路を生成するためのシステム及び方法
- 出願人:ザ・ボーイング・カンパニー
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検査 装置は、所定エリアに配置される被検査物に励起光を照射する光照射部と、所定エリアに、室内光から影となる検査領域を形成するシェードと、被検査物に含まれる寄生虫が励起光の照射によって発する光を透過させるフィルター板と、を備える。
- 公開日:2018/05/17
- 出典:検査装置
- 出願人:株式会社イシダ
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2回目以降の 検査 での被検眼に対するアライメントをスムーズに行う眼科測定装置を提供する。
- 公開日:2017/05/25
- 出典:眼科装置
- 出願人:株式会社ニデック
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前記データのセットは、睡眠 検査 データを含む、請求項1に記載のデータを自動的にダウンロードする方法。
- 公開日:2016/09/01
- 出典:睡眠検査データのようなデータを自動的にダウンロードするためのシステム及び方法
- 出願人:シグニファイホールディングビーヴィ
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ガラス基板の全面に対して 検査 を行うことができるガラス基板の検査装置を提供する。
- 公開日:2017/01/26
- 出典:ガラス基板の検査装置
- 出願人:東朋テクノロジー株式会社
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各工程において処理が実施された際の処理条件を各ワーク毎に求めた処理条件データを取得し、ワークに対する 検査 において不良と判定されたワークにおいて、前記処理条件データに基づいて各工程毎の処理条件を抽出し、その抽出された処理条件の中から不良の原因とされる不良原因の処理条件を特定する。
- 公開日:2017/10/12
- 出典:ワークの良否判定方法およびトレーサビリティシステム
- 出願人:昭和電工株式会社
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放射線を利用した材料分析
- 試料入射粒子(源),刺激(含意図外,直分析外)
- 利用,言及生起現象;分折手法(含意図外、直分析外)
- 試料出射粒子(含意図外,直分析外)
- 検出器関連言及
- 分光;弁別(E,λ;e/m;粒子)
- 信号処理とその周辺手段(測定出力提供とその精度向上関連
- 測定内容;条件;動作等関連変数,量ψ
- 表示;記録;像化;観察;報知等
- 制御;動作;調整;安定化;監視;切換;設定等
- 分析の目的;用途;応用;志向
- 対象試料言及(物品レベル)
- 試料形状言及
- 検出;定量;着目物質とその構成元素;関連特定状態等
- 測定前後の試料の動き
- 試料保特,収容手段;状態等
- 試料作成;調製;試料及び他部分に対する処理;措置等
- 機能要素;部品素子;技術手段要素等;雑特記事項その他