採取 の意味・用法を知る

第１ 採取 部２２１が採取した第１コネクタ２１に実装されている通信ケーブルに関するケーブル情報に基づき、通信ケーブルに対応する通信設定値を通信設定情報２３１から抽出する第１抽出部２２２と、通信設定情報を第１通信スイッチ２６の第１記憶装置２７に設定する第１設定部２２３と、第１通信スイッチ２６のポートを有効化させる第１有効化処理部２２４と、このポートの有効化と同期して、管理装置３に通信装置４に備えられる第２通信スイッチ４２のポートの有効化を行なわせる第１同期処理部２２５とを備える。

• 公開日：2016/12/15
• 出典：通信システム，制御装置および管理装置
• 出願人：富士通株式会社

ガイドシェル先端に装着されるダストポッドと、該ダストポッドの後段に設けられるプレクリーナと、台車本体に設けられる集塵機と、これらダストポッド、プレクリーナおよび集塵機相互を集塵可能に接続する集塵ホースとを有するダストコレクタ装置を備える穿孔機械に用いられて、前記ダストコレクタ装置からくり粉を 採取 するくり粉サンプリング装置であって、前記プレクリーナの筐体に自身入側が接続されるとともに、自身出側のサンプル採取位置に配置される採取ボトルに向けてくり粉を吐出可能に設けられた採取管と、前記プレクリーナ内に回動可能に設けられて、サンプリング時にあっては、前記プレクリーナ内のくり粉の一部を前記採取管の入側に...

• 公開日：2017/03/30
• 出典：くり粉サンプリング装置およびこれを備える穿孔機械
• 出願人：古河ロックドリル株式会社

煙が検出される位置を決定可能な空気 採取 型粒子検出システムを提供する

• 公開日：2017/01/19
• 出典：粒子検出におけるアドレス指定能力
• 出願人：エックストラリス・テクノロジーズ・リミテッド

クロマトグラフ薄層板載置手段、スポット検出光照射手段Ｂ、薄層クロマトグラフ薄層板撮影手段Ｃ、薄層クロマトグラフ薄層板撮影手段Ｃによって撮影された画像を表示するための画像表示手段、及び、画像表示手段に表示された画像中で作業者がスポット位置を指定するスポット指定手段、スポット指定手段によって作業者が指定した位置のスポットを 採取 するための採取手段（Ｆ−１、Ｆ−２）を備える。

• 公開日：2016/09/05
• 出典：薄層クロマトグラフ用分取装置
• 出願人：山善株式会社

放射性物質 採取 装置制御部は、測定ヘッドのそれぞれにおいてどの放射線検出器の検出強度が最も高くなったかを認識し、放射性物質片の領域内位置を認識する。

• 公開日：2016/09/05
• 出典：放射性物質採取装置及び放射性物質分析方法
• 出願人：国立研究開発法人海上・港湾・航空技術研究所

容器内に 採取 される初流血の量にバラツキが生じず、最低採取量を確保でき、しかも、検査用血液容器を横置き状態にして検査器具に初流血を流出しても、エアーの巻き込みが生じない検査用血液容器およびその検査用血液容器を備える採血器具を提供する。

• 公開日：2016/12/08
• 出典：検査用血液容器および採血器具
• 出願人：テルモ株式会社

監視対象の半導体電力変換装置から発生する音が複数の音検知部によって 採取 されて音データが取得され（Ｓ１）、当該音データが所定の音圧レベル以上である場合に音検知部のそれぞれにおける音の採取に関する計測時間と共に音データが記録され（Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４）、これら音データの中から二個が選択され組み合わされて作成される音データの対毎に計測時間の時間差が算出されると共に当該時間差に音速が掛け合わされて距離差に換算され、前記音データの対毎の距離差に基づいて音が発生した部位が特定される（Ｓ５）ようにした。

• 公開日：2017/03/23
• 出典：半導体電力変換装置の故障部位特定方法、故障部位特定装置、及び故障部位特定プログラム、並びに、故障部位特定機能を備える半導体電力変換装置
• 出願人：一般財団法人電力中央研究所

部品点数が板体の１点のみで、作業工程が少なく簡易・迅速に微物を 採取 でき、異物の混入を防止できる低コストの微物採取用具を提供すること。

• 公開日：2017/02/16
• 出典：微物採取用具及び微物の採取・鑑定方法
• 出願人：株式会社エクシール

安全に雪を 採取 し、雪の廃棄のための労力を少なくできる除雪機を提供する。

• 公開日：2015/11/09
• 出典：除雪機のシャベル反転機構
• 出願人：台灣浩壹股ふん有限公司

シリコン結晶の金属不純物を分析する方法であって、チョクラルスキー法によってシリコン結晶をルツボに収容されているシリコン溶融液から引上げた後に、ルツボ内のシリコン溶融液の残湯から融液状態の試料を 採取 する工程と、採取した試料が固化した後に、固化後の試料の金属不純物をＤＬＴＳ法により分析する工程とを有する。

• 公開日：2017/06/22
• 出典：シリコン結晶の金属不純物分析方法及び評価方法
• 出願人：信越半導体株式会社