干渉光 の意味・用法を知る

このような過程を段階別に述べると、白色光を任意の偏光光にしてから水平偏光光と垂直偏光光に分離し、水平偏光光を薄膜がコートされている測定面に入射させ、垂直偏光光を基準面に入射させる。そして、測定面に入射した光が薄膜の上層部と下層部から反射されつつ干渉されて 干渉光 を生成し、基準面に入射した光を反射させて反射光を生成する。そして、干渉光と反射光を合成して合成干渉光を生成する。

• 公開日： 2006/06/01
• 出典： 白色光干渉計を用いた透明薄膜の厚さ及び形状の測定装置及び方法
• 出願人： コリアアドバンストインスティテュートオブサイエンスアンドテクノロジ−

ヘテロダイン干渉計用の位相差測定装置は、ヘテロダイン干渉計から出力された参照 干渉光 と測定干渉光との位相差を測定するものである。以下において従来の装置について説明する。

• 公開日： 1995/01/17
• 出典： ヘテロダイン干渉計用位相差測定装置
• 出願人： 株式会社ニコン

このようにすれば、偏光調整部が 干渉光 の偏光状態を所定の偏光状態に調整するので、結果として、測定光が、偏光素子から検出器へ向かう光路から遮断される。したがって、測定光自体の偏光状態を調整しなくとも、励起光の光強度が極小である期間に試料を通った測定光の影響を光検出器の測定結果から除くことができ、測定光の偏光状態を調整することによる測定光の波面の乱れの発生を回避することができる。

• 公開日： 2011/11/10
• 出典： 光熱変換測定装置
• 出願人： セイコーエプソン株式会社

光路合成分離手段は、眼底に向かう信号光の光路と撮影光路とを合成するように作用する。信号光は、この撮影光路を介して眼底に照射されることになる。また、光路合成分離手段は、眼底を経由した信号光と撮影光路とを分離するように作用する。分離された信号光は、参照光と重畳されて 干渉光 を生成することになる。

• 公開日： 2007/10/04
• 出典： 眼底観察装置
• 出願人： 株式会社トプコン

被検光束が低可 干渉光 束である場合でも、被検光束の波面情報を担持した干渉光を得ることが可能であり、かつ振動等の影響を受け難くアライメントも容易に調整し得る波面測定用干渉光学系、およびこれを備えた波面測定用干渉計装置を得る。

• 公開日： 2006/06/22
• 出典： 波面測定用干渉計装置
• 出願人： 富士フイルム株式会社

メーキャップ化粧料に配合した場合に、上品な細かい点在感を感じさせる 干渉光 を与え、使用時の滑り性が損なわれない複合化粉末と、当該複合化粉末を含有するメーキャップ化粧料を提供すること。

• 公開日： 2009/08/06
• 出典： 複合化粉末及びこれを含有するメーキャップ化粧料
• 出願人： 株式会社資生堂

このため、合分波手段６ａにおいては、反射光Ｌ３ａおよび参照光Ｌ２ａによる 干渉光 Ｌ４ａと同時に、漏洩反射光Ｌ３bsおよび漏洩参照光Ｌ２bsによる漏洩干渉光Ｌ４bsが生じる。また同様に、合分波手段６ｂにおいては、反射光Ｌ３ｂおよび参照光Ｌ２ｂによる干渉光Ｌ４ｂと同時に、漏洩反射光Ｌ３asおよび漏洩参照光Ｌ２asによる漏洩干渉光Ｌ４asが生じる。

• 公開日： 2008/06/26
• 出典： 光断層画像化装置
• 出願人： 富士フイルム株式会社

そして、表面プラズモン光と伝播光とによる、表面プラズモン光が走る方向である金属薄膜の平面に平行な方向の波数成分が異なることに起因して、 干渉光 の干渉縞が発生する。

• 公開日： 2012/03/01
• 出典： 電場増強度の絶対値の測定方法および電場増強度の絶対値の測定装置、および、測定部材の評価方法および測定部材の評価装置、ならびに、アナライトの検出方法およびアナライトの検出装置
• 出願人： コニカミノルタ株式会社

さらに、前述した各実施の形態では、二入力二出力の多モード 干渉光 カプラとして説明したが、少なくとも一つの入力光導波路及び少なくとも二つの出力光導波路を有する多モード干渉光カプラ、あるいは少なくとも二つの入力光導波路及び少なくとも一つの出力光導波路を有する多モード干渉光カプラとしても良く、また、多入力多出力の多モード干渉光カプラとしても良い。

• 公開日： 2003/10/31
• 出典： 多モード干渉光カプラ
• 出願人： 東日本電信電話株式会社

入射光すなわち照明光の角度が変化したときには、光の反射率、すなわち、ウエハと薄層を通過し、薄層の上側及び裏側表面で反射した後、薄層とウエハを通って戻る光の反射率は、更に、以下に記載するような変化を受ける。反射強度が最小又は最大になる角度は、下記の薄層 干渉光 式によって定められる。薄層の厚さが変化するにつれて、角度空間中における最小又は最大の反射強度の位置もまた変化し、それによって実際の薄層の厚さを決定することができる。

• 公開日： 1998/09/25
• 出典： 薄層の厚さと薄層の厚さの変化を測定する方法及び装置
• 出願人： 株式会社ニコン

基材上に透明な低屈折率膜を一層設けた時、入射光の一部は空気と薄膜との境界で反射し、一部は薄膜と基材界面で反射し、全体として反射光はそれらの 干渉光 となる。干渉光は結果的に基材の反射率を低減もしくは増加させる。低屈折率膜は、光が干渉作用をおこす程度に薄く、基材の光反射率は低屈折率膜の屈折率と膜厚に依存する。

• 公開日： 1999/01/06
• 出典： 光反射防止性膜、光反射防止方法および光反射防止性物品
• 出願人： 東レ株式会社

光反応性の高分子液晶薄膜に偏光 干渉光 照射ないしは偏光光照射をおこない、かかる後に加熱処理によって周期的な分子配向を誘起することによって、熱的に安定な偏光回折素子を提供する。

• 公開日： 2004/12/02
• 出典： 偏光回折素子および偏光回折素子用光反応性高分子液晶
• 出願人： 小野浩司

記録層の初期化する領域に関しては、先に初期化を行う記録層の初期化領域を、後に初期化する記録層の初期化領域を含み、より広い範囲とすることが好ましい。これによって、先に初期化した記録層の初期化領域と未初期化領域の境界部分からの 干渉光 によりフォーカスサーボが乱されることを回避できる。

• 公開日： 2011/02/24
• 出典： 光学式記録媒体の初期化方法および初期化装置
• 出願人： パナソニック株式会社