ビーム経路 の意味・用法を知る
ビーム経路 とは、ホトレジスト感材への露光・位置合せ や放射線治療装置 などの分野において活用されるキーワードであり、ルネサスエレクトロニクス株式会社 やエーエスエムエルネザーランズビー.ヴイ. などが関連する技術を3,766件開発しています。
このページでは、 ビーム経路 を含む技術文献に基づき、その意味・用法のみならず、活用される分野や市場、法人・人物などを網羅的に把握することができます。
ビーム経路の意味・用法
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...力結合するように構成された出口面(12)を含み、前記外部周波数選択部材(14)は、内部レーザーキャビティ(10)の外側に配置され、レーザー光線の波長を安定化するように構成され、前記ビーム分割器(16)は、前記内部レーザーキャビティ(10)の外部に配置され、出力結合されたレーザー光線(B0)を、第1の ビーム経路 (P1)に沿って進む第1のビーム(B1)と、第2のビーム経路(P2)に沿って進む第2のビーム(B2)とに分割するように構成され、前記第1のビーム(B1)は前記第2のビーム(B2)より高い光線の強度を有しており、前記第1のビーム経路(P1)は前記第2のビーム経路(P2)とは異なり、前記強度制...
- 公開日:2018/01/25
- 出典:ダイオードレーザー
- 出願人:ハイヤグレーザーテクノロジーゲーエムベーハー
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多層ミラー7、特にゲーベルミラーと、X線ビームのための ビーム経路 15が選択可能である切り換えシステム13とを備えた、X線回折装置1のためのX線光学アセンブリ3において、X線光学アセンブリが、さらにモノクロメータ9、特にチャンネルカット結晶9aを含み、X線ビームのための3つのビーム経路が、切り換えシステムを使用して選択可能であり、切り換えシステムが第1の位置にあるときの第1のビーム経路は、多層ミラーを通り越し、モノクロメータを通り越し、切り換えシステムが第2の位置にあるときの第2のビーム経路は、多層ミラーを含み、モノクロメータを通り越し、切り換えシステムが第3の位置にあるときの第3のビーム経路は...
- 公開日:2017/08/31
- 出典:3つのビーム経路のための切り換えシステムを備えるX線光学アセンブリ、及び関連するX線回折装置
- 出願人:ブルーカーアーイクスエスゲーエムベーハー
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以上説明したように、分散要素211は、光の ビーム経路 290のスペクトル分解を提供する
- 登録日:2019/04/12
- 出典:顕微鏡用の検出装置
- 出願人:カールツァイスマイクロイメージングゲーエムベーハー
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診断イメージング装置及び超音波処置装置を有する今日の超音波処置システムにおいて、診断イメージング装置は、超音波照射の ビーム経路 の方向における温度情報を提供する
- 登録日:2018/07/20
- 出典:高密度焦点式超音波照射
- 出願人:シグニファイホールディングビーヴィ
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案内通路68として前側に形成されるアプリケーションチップ18の筐体壁76は、光度測定光学の ビーム経路 のために、その後側78で測定窓70に向かって傾斜している。
- 公開日:2017/08/03
- 出典:分析用テストテープ
- 出願人:エフホフマン−ラロッシュアクチェンゲゼルシャフト
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折返し反射表面76が、逸れた ビーム経路 44を反射表面72の方に方向転換させ、方向転換された逸れたビーム経路が、逸れていないビーム経路と光学的に平行でありかつ速軸方向に関して変位されたものとなって、R1に等しくない第2のエテンデュアスペクト比R2を有する出力ビーム30を形成する。
- 公開日:2013/12/09
- 出典:単一エミッタのエテンデュのアスペクト比スケーラ
- 出願人:コーニングインコーポレイティッド
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従って、真空壁及び真空ポンプを利用することにより、 ビーム経路 全体に真空環境を提供する
- 公開日:2015/11/26
- 出典:パターニングデバイス支持体及びリソグラフィ装置
- 出願人:エーエスエムエルホールデイングエヌ.ブイ.
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粒子線治療装置(51)のビーム輸送系(59)は、複数の粒子線照射装置(58)のいずれか一つに荷電粒子ビーム(81)を輸送するように ビーム経路 を変更するビーム経路変更器(16)を有し、治療管理装置(95)は、同一治療時間帯に治療を行う複数の粒子線照射装置(58)に対して、荷電粒子ビーム(81)を割当時間毎に複数の粒子線照射装置(58)のいずれか一つに輸送するように、加速器(54)の出射器(62)を制御する出射器制御信号(csiga)とビーム経路変更器(16)を制御するビーム経路変更器制御信号(キッカー制御信号(csigb))とを生成するビーム経路制御器(18)を有する。
- 公開日:2017/03/16
- 出典:粒子線治療装置
- 出願人:三菱電機株式会社
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ビーム経路 4の干渉サブビーム41,42,43,44を生成するために、偏向装置5は、ビーム経路4の伝播方向に互いに離れて位置する2つの領域51,52;53,54であって、それぞれビーム経路4を反射する領域を有する。
- 公開日:2014/04/03
- 出典:オートフォーカス装置を有する顕微鏡及び顕微鏡でのオートフォーカス方法
- 出願人:ライカマイクロシステムスヴェツラーゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング
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少なくとも2つの相互に独立した光源(1、2)を有する光 ビーム経路 における、特に、好ましくは高解像度または超高解像度顕微鏡のビーム経路(8、9)におけるビーム調整のための装置であって、光源(1、2)のビームが、共通照明ビーム経路(10)において重畳される必要がある装置であって、ビームの瞳位置および/または焦点位置をチェックできるように支援する較正サンプル(22)を、照明ビーム経路(10)に組み入れ、かつそこから取り出すことができることを特徴とする装置。
- 公開日:2014/05/29
- 出典:光ビーム経路におけるビーム調整のための装置および方法
- 出願人:ライカマイクロシステムズシーエムエスゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング
ビーム経路の原理 に関わる言及
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詳細には、部分検出 ビーム経路 を設けることは、部分検出ビーム経路に入る被検出放射が、照明ビーム経路を介して検出器に向けて案内されるように行なわれる。照明ビーム経路に入る被検出放射と、部分検出ビーム経路に入る被検出放射との混合が行なわれる。
- 公開日: 2007/02/08
- 出典: 顕微鏡対物レンズシステム、顕微鏡及び顕微鏡観察方法
- 出願人: カールツァイスマイクロイメージングゲーエムベーハー
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対象と相互に作用して対象から発出することによって、特定の探索光 ビーム経路 長を横切ったOCT測定光は、特定の参照光ビーム経路長を横切った参照光に重畳され、検出される。検出された重畳光の輝度は、OCT測定光の干渉長、および探索光ビーム経路長と参照光ビーム経路長の差に依存する。この探索光ビーム経路長と参照光ビーム経路長の差がOCT測定光の干渉長よりも小さい場合に限り、干渉信号が検出され得る。
- 公開日: 2014/07/03
- 出典: 画像化システム
- 出願人: アスクレピオンメディテックアクチエンゲゼルシャフト
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