テスト の意味・用法を知る

適切な焦点調節方法を選択するため、最初に、焦点調節しようとする欠陥がウエハ縁端部に向かう所定の半径の外にあるかどうかの テスト をする。もしも欠陥が所定の半径内にあればＴＶ焦点調節又はレーザ焦点調節が用いられる。

• 公開日： 2008/09/18
• 出典： ウエハ縁端部の上部表面の欠陥の高分解能画像を取得する方法
• 出願人： ヴィステックセミコンダクタシステムスゲーエムベーハー

ＵＥ位置決定機能が位置決定の再試行に進む場合、ＵＥ能力および使用可能な位置決定の特徴を、今度は二回目の位置決定試行に対して設定される位置決定法についてチェックする。 テスト が成功であれば、この位置決定法を実行する。完了すると、何らかの設定された事後チェックを実行し、達成精度をチェックする。達成精度が要求精度を満たせば、二回目の位置決定の試行結果を報告し、満たさなければ、三回目の位置決定の試行を実行する。二回目の位置決定の試行が失敗したであろう場合にも、三回目の位置決定の試行をまた実行する。

• 公開日： 2013/05/30
• 出典： 種々のＲＡＮ／ＲＡＴＳを使用する無線通信システムにおけるノードの位置決定方法および装置
• 出願人： テレフオンアクチーボラゲツトエルエムエリクソン

正常なデータ書込み動作およびデータ読出し動作に従って、図１の変更された記憶素子１５０は、重ね書き信号ＯＥが非アクティブである時の従来の記憶素子３０と同じに動作する。 テスト 重ね書き動作および検出動作では変更された記憶素子１５０は下記のように動作する。

• 公開日： 1994/02/04
• 出典： 集積回路中の記憶素子の記憶内容を重ね書きする方法および複数の記憶素子のうちの第１の記憶素子に希望の論理状態をセットする装置
• 出願人： デュエット・テクノロジーズ・インコーポレーテッド

注意すべきことは、接続されたコア境界のＴＰＧの間でのＴＩＯの分配がＴＩＯの経路を減少させるのであるが、それはまたコア境界の間のパス接続の テスト を妨げることである。

• 公開日： 1998/06/30
• 出典： 埋め込みコアのボンドパッドアクセスのための信号コレクタを有する集積回路
• 出願人： テキサスインスツルメンツインコーポレイテッド

ここで問題になるのは、患者の歯の色の正確な選定及び効果仕上材の適切な使用であるが、製作された義歯の色効果の判定は豊富な経験と反復 テスト があって初めて可能である。

• 公開日： 1997/09/30
• 出典： 歯の形態及び歯の色構成の決定のための方法
• 出願人： ゲーアハルトプファオ

いくつかの形式の回路 テスト は技術者に多くのテスト結果を提供する。技術者がこれらのテスト結果を管理、参照するのを支援するために、各テスト結果にテスト番号を関連付けることができる。

• 公開日： 2005/11/17
• 出典： テスト番号の競合を処理するための方法と装置
• 出願人： ヴェリジー（シンガポール）プライベートリミテッド

定電流源の相対誤差を短時間で精度良く テスト することができる定電流供給装置、及び該定電流供給装置を用いた電流積分装置、並びに定電流供給装置のテスト方法を提供する。

• 公開日： 2013/09/12
• 出典： 定電流供給装置、及び該定電流供給装置を用いた電流積分装置、定電流供給システム、並びに定電流供給装置のテスト方法
• 出願人： 株式会社東芝

テスト に関する情報を一元管理することにより、テスト支援機能間で活用するソフトウェアテスト管理プログラム、ソフトウェアテスト管理装置、ソフトウェアテスト管理方法を提供する。

• 公開日： 2007/05/31
• 出典： ソフトウェアテスト管理プログラム、ソフトウェアテスト管理装置、ソフトウェアテスト管理方法
• 出願人： 富士通株式会社

そこで、ブラックボックス テスト に関する作業効率を向上させることのできるテストプログラム生成方法、テストプログラム生成装置、及びテストプログラム生成プログラムの提供を目的とする。

• 公開日： 2013/02/07
• 出典： テストプログラム生成方法、テストプログラム生成装置、及びテストプログラム生成プログラム
• 出願人： 富士通株式会社

上記被処理流体に対する変調電磁波処理の効果は、少量の被処理流体の変調電磁波処理による机上 テスト を行い、これらの変調電磁波処理の効果があることを確認した上で実機での変調電磁波処理を行う。

• 公開日： 2004/10/14
• 出典： 被処理流体の変調電磁波処理方法
• 出願人： エスケーエイ株式会社

半導体装置とその テスト 装置及びテスト方法に関するものであり、例えば入出力端子を多数有する半導体装置を効率よくテストするための半導体装置とそのテスト装置及びテスト方法に関する。

• 公開日： 2006/08/03
• 出典： 半導体装置とそのテスト装置及びテスト方法。
• 出願人： ルネサスエレクトロニクス株式会社

そこで本件は上記の課題に鑑みてなされたものであり、攻撃に対する テスト を簡易に行うことが可能な攻撃模倣テスト方法、攻撃模倣テスト装置及び攻撃模倣テストプログラムを提供することを目的とする。

• 公開日： 2012/08/02
• 出典： 攻撃模倣テスト方法、攻撃模倣テスト装置及び攻撃模倣テストプログラム
• 出願人： 富士通株式会社

この分類は、複数のその他の方法で使用されることが可能である。例えばこの分類に基づいて、しきい値が変更されてもよく、各信号の強度はそのしきい値に対して テスト されることが可能である。この分類は、さらなる信号の探索を可能にするため、またはそれを不可能にするために使用されてもよい。この分類はまた、探索される信号源の数を調整するために使用されてもよい。

• 公開日： 2009/02/12
• 出典： 携帯電話システムを効率的に使用するためにユーザの形態を分類するための方法および装置
• 出願人： クゥアルコム・インコーポレイテッド

以上に示したクレペリン検査及び系列記憶 テスト の結果から総合的に判断すると、ショ糖の摂取は集中力及び注意力を短期的に上昇させることができるが、集中力及び注意力を長時間にわたりかつより一定に持続させることができないことを示している。

• 公開日： 2003/02/07
• 出典： 集中力及び注意力を持続させる剤及び該剤を含む飲食物
• 出願人： 三井製糖株式会社

sAPP分泌実験の テスト 、PKC活性化実験、および動物行動実験により、sAPP分泌の増大は、PKC活性化の増大に続いて起こること、並びに動物行動研究において認知の改善という結果が得られることが示された。

• 公開日： 2013/05/23
• 出典： アルツハイマー病の治療および認知の向上のための方法
• 出願人： ブランシェット・ロックフェラー・ニューロサイエンスィズ・インスティテュート